显微熔点测定仪
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X-4、X-5系列显微熔点测定仪能够用于观察有机单晶体、共晶体在受热条件下的形态变化，进一步测量晶体熔点温度和三态转化标准，为工程材料、固体物理学等诸多领域的科研工作提供了有效手段。该类型仪器目前多适用于高分子材料生产单位、化工企业、制药公司、涂料/香料生产企业。
X-4/X-4A显微熔点测定仪
X-4系列熔点测定仪在温度测量部分使用了高稳定和高线性温度的传感器，加装信号放大器、AD电路转换器、PID智能控制系统，可以清楚地接收到实时温度，并将相应数据绘制成曲线图表以供参考。观察部分使用体视显微镜，视场大、工作距离与倍率可调整，立体感强。
X4系列显微熔点测定仪技术参数：
测温方式：温度传感器，温度值LED数显，手动控温；
测量范围：室温~320摄氏度；
测量精度：＜±1度；
工作距离：110mm；
放大倍率：20×—40×；
显微镜：两档变倍体视镜；
试样用量：＜1mg/次；
测量误差：全量程±1%；
X-5/X-5A显微熔点测定仪
X-5显微熔点测定仪使用标准80倍双目体视显微镜，在控温仪器上能够双排显示设定温度和被测温度，PID系统智能调节热台温度，开机时热量冲击小、加热速度块、制动恒温。热台采用220V/300W镍铬丝，使用寿长，还便于后期更换。
X5系列显微熔点测定仪技术参数：
测温方式：温度传感器，温度值LED数显，设定上下限报警，自动控温
测量范围：室温~320°
测量确度：＜±0.5度
工作距离：110mm
放大倍率：20×—40×
显微镜：两档变倍体视镜
试样用量：＜1mg/次
测量误差：全量程±0.5%
X-4/X-5系列显微熔点测定仪技术优势：
该仪器使用毛细管法与玻片法进行测量最佳，在热台上有玻片卡槽。在使用过程中显微熔点仪的温度是可调的，根据实际使用情况请在操作界面上小心更正。
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放大倍数 |
20X、40X、80X |
工作距离 |
30-100mm |
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物方视场 |
Φ100mm-Φ3mm |
测定量 |
小于0.1mg |
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测定误差 |
满量程±0.5% |
测量准确度 |
±1℃-±0.5℃ |
显微熔点测定仪结构原理：
本仪器显微镜、加热台为分体结构,通过简单插入式专用热传感器相联接，装配简单,使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。加热台用电热丝加热，并带有专用散热器,可快速降温�？捎糜谠夭ㄆú饬�，也可用毛细管测量熔点。
显微熔点测定仪操作方法：
1. 新购仪器，电源接通，开关打到加热位置，从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中，若左右偏，可左右调节显微镜来解决。前后不居中，可以松动热台两旁的两只螺钉，注意不要那下来，只要松动就可以了，然后前后推动热台上下居中即可，锁紧两只螺钉。在做推动热台时，为了防止热台烫伤手指，把波段开关和电位器扳到编号小位置，即逆时针旋到底。
2. 进行升温速率调整，这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时，记录下这时的温度值，然后，秒表转一圈（一分钟）时在记录下温度值。这样连续记录下来，直到你所要求测量的熔点值时，其升温速率为1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动，但随着温度的升高，其升温速率会变慢。
3. 测温仪的传感器上，把其插入热台孔到底即可，若其位置不对，将影响测量准确度。
4. 要得到准确的熔点值，先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。（修正值=标准值- 所测熔点值），作为测量时的修正依据。注意：标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时，（样品的熔点值=该样品实测值+修正值）。
5. 对待测样品要进行干燥处理，或放在干燥缸内进行干燥，粉末要进行研细。
6. 当采用载——该玻片测量时，建议该盖玻片（薄的一块）放在热台上，放上药粉，再放上载波片测量。
7. 在数字温度显示小一位（如8或7之间跳动时）应读为8.5℃。
8. 在重复测量时，开关处于中间关的状态，这时加热停止。自然冷却到10以下时，放入样品，开关打到加热时，即可进行重复测量。
9. 测试完毕，应切断电源，当热台冷却到室温时，方可将仪器装入包箱内。
10.建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。
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